功能特點

1.0.01fA的電流測量分辨率

    在研究材料特性或判定器件性能時，經(jīng)常需要測量fA/PΩ等極限電流、電阻，而傳統(tǒng)的數(shù)字萬用表（DMM）無法達(dá)到，TH2690系列飛安表/靜電計提供了行業(yè)**的0.01fA電流測量分辨率及1000PΩ電阻測量，**實現(xiàn)了材料測量，可滿足現(xiàn)在及將來的測量需求。

2.10,000讀數(shù)/秒的數(shù)據(jù)讀取速率

測量速度一般由積分設(shè)置中的積分周期決定，積分周期通常為工頻周期(PLC)的整數(shù)倍。在能夠提供充足的平均次數(shù)來避免工頻噪聲對測量的影響的前提下，積分周期顯然越短越好。

由于傳統(tǒng)儀器的讀取速率相對緩慢，無法捕獲到快速瞬態(tài)信號。TH2690系列數(shù)據(jù)讀取速率可達(dá)10,000讀數(shù)/秒，可捕獲到更精細(xì)的被測器件響應(yīng)。

3.統(tǒng)計圖顯示

TH2690系列可以將測試結(jié)果在主界面以圖形方式實時地顯示，展示被測件（DUT）的動態(tài)特性。圖形分曲線圖和直方圖兩種。

下圖為設(shè)置界面

1） 曲線圖(時基視圖)顯示

      TH2690可以便捷地繪制多種曲線圖，包括I-t、V-t、R-t、Q-t和I-R等(特定的圖形顯示功能取決于所使用的產(chǎn)品型號)。進(jìn)行敏感測量時，這種強(qiáng)大且**的圖形顯示能力可使您更容易地獲取有價值的數(shù)據(jù)。

2） 直方圖顯示      

任何測量環(huán)境中都會存在一定的噪聲波動，因此低電平測量數(shù)據(jù)都會帶有一定的統(tǒng)計不確定性。傳統(tǒng)的處理方法是在測量結(jié)束后繪制直方圖對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行評估(通常在電腦上)。然而，如果您需要執(zhí)行多次測量和測試設(shè)置調(diào)試周期，這個過程將會變得冗長。

TH2690系列具有實時的、自動標(biāo)尺的直方圖顯示功能，使您能及時調(diào)試測量設(shè)置而無需在測量后再進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。直方圖顯示于測量數(shù)據(jù)之下，方便您對比直方圖上的累積數(shù)據(jù)與實時測量數(shù)據(jù)。

4.掃描輸出

TH2690可以設(shè)定輸出單階梯波、雙階梯波、方波以及自定義列表輸出。點擊設(shè)定-源設(shè)定選項卡進(jìn)行設(shè)定。設(shè)定界面分別如下：

5.分選功能

TH2690可以對測試結(jié)果進(jìn)行判定分選。有分級（Grading）和分類（Sorting）兩種模式可選，*多可設(shè)置7個判定條件。設(shè)定界面如右圖：

其中分級（Grading）模式是指執(zhí)行極限判定直到遇到失敗跳出，輸出當(dāng)前失敗位，否則繼續(xù)下一個極限判定，若全部合格，則輸出*后一個合格位。

分類（Sorting）模式是指執(zhí)行極限判定直到遇到合格跳出，輸出當(dāng)前合格位，否則繼續(xù)下一個極限判定，若全部失敗，則輸出*后一個失敗位。

6.HANDLER接口定義

1,2,3為信號輸入腳，對應(yīng)上圖IN1，IN2，IN3?？梢愿淖冃盘柖x。

4,5,6,7為信號輸出腳，對應(yīng)上圖OUT4，OUT5，OUT6，OUT7。可以改變信號輸出模式。

7.錯誤信息

當(dāng)儀器出現(xiàn)操作失誤或儀器自檢出錯等問題時，在儀器下方信息欄會報錯，點擊工具-錯誤信息圖標(biāo)，在此處可查看報警信息，可根據(jù)提示進(jìn)行消除錯誤。

8.專用溫濕度探頭提供更可靠的溫濕度數(shù)據(jù)

溫度和濕度是高值電阻測量中的關(guān)鍵參數(shù)。TH2690、TH2690H高阻計提供溫濕度傳感器接口，并配置了專用的溫濕度探頭。數(shù)字溫濕度探頭可用于測定溫度和濕度，提供比熱電偶更**的溫度數(shù)據(jù)。 

9.多種附件應(yīng)對不同的測試環(huán)境和被測件

TH2690配備了多種可選附件，以適配不同的被測件，進(jìn)一步提升其測試效果。主要包括電阻率測試盒和元件測試夾具。

電阻率測試盒配備多種尺寸的電極，可以用于測量不同規(guī)格材料的面電阻率和體電阻率。

元件測試夾具配備多種測試模塊，以應(yīng)對貼片器件、軸向引線器件等多種封裝的測量

10. 電阻率測量（選件）

TH2690系列可選配TH26090選件，進(jìn)行電阻率測量。

a)   方案配置： 

b)   TH26090電阻率測試盒

c)     體積電阻Rv、體積電阻率ρv測量

        將電壓源Vs施加到上電極，指定流經(jīng)測試樣品的大電流為Im，隨后體積電阻Rv用公式Rv=Vs/Im計算。

        從測試樣品流向保護(hù)電極的大電流和從上電極流向保護(hù)電極的表面電流都屬于泄露電流；然而這些電流都會進(jìn)入Vs的低側(cè)，不會對用于計算Rv的電流表電流(Im)的大小造成影響。

        體積電阻率ρv可用公式ρv=EAR/STHxRv計算出，其中:

        EAR = Effective area 有效面積

        STH = Sample thickness 樣品厚度。

a)     表面電阻Rs、表面電阻率ρs測量

        將電壓源Vs施加到護(hù)環(huán)電極，在測試樣品表面上的電流從保護(hù)電極流向主電極，表面電流被指定為Im。表面電阻Rs可用公式Rs=Vs/Im計算。

        從護(hù)環(huán)流向上電極的電流是泄露電流；然而這個電流會流入Vs的低側(cè)，不會對用于計算Rv的電流表電流(Im)的大小造成影響。

        表面電阻可用公式ρs=EPER/GLENxRs計算出，其中:

        EPER = Effective perimeter 有效周長

        GLEN = Gap length 間隔長度