功能特點

1.0.01fA的電流測量分辨率

    在研究材料特性或判定器件性能時，經(jīng)常需要測量fA/PΩ等極限電流、電阻，而傳統(tǒng)的數(shù)字萬用表（DMM）無法達到，TH2690系列飛安表/靜電計提供了行業(yè)**的0.01fA電流測量分辨率及1000PΩ電阻測量，**實現(xiàn)了材料測量，可滿足現(xiàn)在及將來的測量需求。

2.10,000讀數(shù)/秒的數(shù)據(jù)讀取速率

測量速度一般由積分設(shè)置中的積分周期決定，積分周期通常為工頻周期(PLC)的整數(shù)倍。在能夠提供充足的平均次數(shù)來避免工頻噪聲對測量的影響的前提下，積分周期顯然越短越好。

由于傳統(tǒng)儀器的讀取速率相對緩慢，無法捕獲到快速瞬態(tài)信號。TH2690系列數(shù)據(jù)讀取速率可達10,000讀數(shù)/秒，可捕獲到更精細的被測器件響應(yīng)。

3.統(tǒng)計圖顯示

TH2690系列可以將測試結(jié)果在主界面以圖形方式實時地顯示，展示被測件（DUT）的動態(tài)特性。圖形分曲線圖和直方圖兩種。

下圖為設(shè)置界面

1） 曲線圖(時基視圖)顯示

      TH2690可以便捷地繪制多種曲線圖，包括I-t、V-t、R-t、Q-t和I-R等(特定的圖形顯示功能取決于所使用的產(chǎn)品型號)。進行敏感測量時，這種強大且**的圖形顯示能力可使您更容易地獲取有價值的數(shù)據(jù)。

2） 直方圖顯示      

任何測量環(huán)境中都會存在一定的噪聲波動，因此低電平測量數(shù)據(jù)都會帶有一定的統(tǒng)計不確定性。傳統(tǒng)的處理方法是在測量結(jié)束后繪制直方圖對測量數(shù)據(jù)進行評估(通常在電腦上)。然而，如果您需要執(zhí)行多次測量和測試設(shè)置調(diào)試周期，這個過程將會變得冗長。

TH2690系列具有實時的、自動標(biāo)尺的直方圖顯示功能，使您能及時調(diào)試測量設(shè)置而無需在測量后再進行數(shù)據(jù)處理。直方圖顯示于測量數(shù)據(jù)之下，方便您對比直方圖上的累積數(shù)據(jù)與實時測量數(shù)據(jù)。

4.掃描輸出

TH2690可以設(shè)定輸出單階梯波、雙階梯波、方波以及自定義列表輸出。點擊設(shè)定-源設(shè)定選項卡進行設(shè)定。設(shè)定界面分別如下：

5.分選功能

TH2690可以對測試結(jié)果進行判定分選。有分級（Grading）和分類（Sorting）兩種模式可選，*多可設(shè)置7個判定條件。設(shè)定界面如右圖：

其中分級（Grading）模式是指執(zhí)行極限判定直到遇到失敗跳出，輸出當(dāng)前失敗位，否則繼續(xù)下一個極限判定，若全部合格，則輸出*后一個合格位。

分類（Sorting）模式是指執(zhí)行極限判定直到遇到合格跳出，輸出當(dāng)前合格位，否則繼續(xù)下一個極限判定，若全部失敗，則輸出*后一個失敗位。

6.HANDLER接口定義

1,2,3為信號輸入腳，對應(yīng)上圖IN1，IN2，IN3?？梢愿淖冃盘柖x。

4,5,6,7為信號輸出腳，對應(yīng)上圖OUT4，OUT5，OUT6，OUT7?？梢愿淖冃盘栞敵瞿Ｊ?。

7.錯誤信息

當(dāng)儀器出現(xiàn)操作失誤或儀器自檢出錯等問題時，在儀器下方信息欄會報錯，點擊工具-錯誤信息圖標(biāo)，在此處可查看報警信息，可根據(jù)提示進行消除錯誤。

8.專用溫濕度探頭提供更可靠的溫濕度數(shù)據(jù)

溫度和濕度是高值電阻測量中的關(guān)鍵參數(shù)。TH2690、TH2690H高阻計提供溫濕度傳感器接口，并配置了專用的溫濕度探頭。數(shù)字溫濕度探頭可用于測定溫度和濕度，提供比熱電偶更**的溫度數(shù)據(jù)。 

9.多種附件應(yīng)對不同的測試環(huán)境和被測件

TH2690配備了多種可選附件，以適配不同的被測件，進一步提升其測試效果。主要包括電阻率測試盒和元件測試夾具。

電阻率測試盒配備多種尺寸的電極，可以用于測量不同規(guī)格材料的面電阻率和體電阻率。

元件測試夾具配備多種測試模塊，以應(yīng)對貼片器件、軸向引線器件等多種封裝的測量

10. 電阻率測量（選件）

TH2690系列可選配TH26090選件，進行電阻率測量。

a)   方案配置： 

b)   TH26090電阻率測試盒

c)     體積電阻Rv、體積電阻率ρv測量

        將電壓源Vs施加到上電極，指定流經(jīng)測試樣品的大電流為Im，隨后體積電阻Rv用公式Rv=Vs/Im計算。

        從測試樣品流向保護電極的大電流和從上電極流向保護電極的表面電流都屬于泄露電流；然而這些電流都會進入Vs的低側(cè)，不會對用于計算Rv的電流表電流(Im)的大小造成影響。

        體積電阻率ρv可用公式ρv=EAR/STHxRv計算出，其中:

        EAR = Effective area 有效面積

        STH = Sample thickness 樣品厚度。

a)     表面電阻Rs、表面電阻率ρs測量

        將電壓源Vs施加到護環(huán)電極，在測試樣品表面上的電流從保護電極流向主電極，表面電流被指定為Im。表面電阻Rs可用公式Rs=Vs/Im計算。

        從護環(huán)流向上電極的電流是泄露電流；然而這個電流會流入Vs的低側(cè)，不會對用于計算Rv的電流表電流(Im)的大小造成影響。

        表面電阻可用公式ρs=EPER/GLENxRs計算出，其中:

        EPER = Effective perimeter 有效周長

        GLEN = Gap length 間隔長度